目的应用多种遗传学技术检测诊断400例性发育异常（DSD）患者的遗传学病因，并总结分析其临床特征。方法选取2018年1月至2023年3月该院收治的400例确诊为DSD的患者作为研究对象，运用G-显带染色体核型分析、荧光原位杂交（FISH）、多重链接探针扩增技术（MLPA）、高通量测序的低深度全基因组测序（CNV-seq）、全外显子组测序技术（WES）、全基因组测序（WGS）等技术进行检测和定位，查找患者遗传学病因。结果经G-显带染色体核型分析，以及FISH、MLPA对核型分析结果进行验证，明确诊断45,X特纳综合征及其变异型136例（34.00%），47,XXY克氏综合征及其变异型187例（46.75%）；经G-显带染色体核型分析、CNV-seq、WES、WGS、一代测序技术诊断46,XX DSD 17例（4.25%）、46,XY DSD 35例（8.75%）；经G-显带染色体核型分析和FISH、MLPA验证诊断性染色体核型异常DSD 25例（6.25%）。结论联合应用G-显带染色体核型、FISH、CNV-seq、WES等多种遗传学方法，能准确发现DSD的遗传学病因，建立基因型与表现型之间的良好关系。